広報・広聴活動プレスリリース

2017年05月02日

ディープラーニング(深層学習)を用いた画像認識に 最適なSSDを開発

~データの「価値」を判断する ことで、300倍の長寿命化、26%の高速化に成功

概要

 

 中央大学 理工学部 教授 竹内 健のグループは、ディープラーニング(深層学習)を用いた画像認識に最適な記憶デバイス(SSD)を開発しました。開発したSSDは画像データの「価値」を判定し、重要なデータは高信頼なメモリセル、重要性が低いデータは信頼性が低いメモリセルに記憶するように制御します。また、ディープラーニングを用いた画像認識では、認識精度が保てれば計算の精度は低くても影響しないことに着目し、読み出しの高速化と高い画像認識を両立する、メモリのエラーを訂正する誤り訂正回路(ECC)を開発しました。これらの制御技術の開発により、SSDの寿命(データの保持時間)を300倍長寿命化し、SSDを26%高速化することに成功しました。

 

 本研究成果は、科学技術振興機構(JST)戦略的創造研究推進事業 (CREST)「素材・デバイス・システム融合による革新的ナノエレクトロニクスの創成」における研究課題「デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム」において得られました。

 

 本研究成果は、2017年4月30日から5月3日に米国オースチンで開催された「IEEE Custom Integrated Circuits Conference」で発表されました。

 

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【研究者】     
竹内 健   中央大学理工学部 教授(電気電子情報通信工学科)

 

【発表(雑誌・学会)】
本研究成果は、2017年4月30日から5月3日に米国オースチンで開催される「IEEE Custom Integrated Circuits Conference」で発表されました。
論文名:12x Bit-Error Acceptable, 300x Extended Data-Retention Time, Value-Aware SSD
with Vertical 3D-TLC NAND Flash Memories for Image Recognition

 
【研究内容】下記PDFよりご覧ください

【お問い合わせ先】 

<研究に関すること>
 竹内 健 (タケウチ ケン)
 中央大学理工学部 教授(電気電子情報通信工学科)
 TEL: 03-3817-7374
 E-mail: takeuchi@takeuchi-lab.org

 

<広報に関すること>
 加藤 裕幹 (カトウ ユウキ)
 中央大学 研究支援室
 TEL 03-3817-1603,FAX 03-3817-1677
 E-mail: k-shien@tamajs.chuo-u.ac.jp